磁粉探伤仪缺陷的显示方法

磁粉探伤仪探伤常用的有X射线探伤仪和同位素γ射线探伤仪，分别称为X射线探伤仪和γ射线探伤仪。当这些射线通过一种物质时，物质的密度越大，辐射强度越低，也就是说，射线通过物质的强度越小。这时，如果用照相底片接收，底片的灵敏度很小；如果用仪器接收，得到的信号很弱。

因此，当用辐射照射待测超声波探伤仪的零部件时，如果内部存在气孔、夹渣等缺陷，则通过辐射缺陷路径的材料密度要比通过辐射缺陷路径的材料密度小得多。T缺陷，材料通过缺陷路径的强度略有降低，即透射率较大，如果用负膜接收，光会被敏化。如果数量较大，垂直于射线方向的缺陷平面投影可以从底片上反射出来。如果使用其他接收器，垂直于射线方向的缺陷的平面投影和射线的传输也可以被仪器反射。

超声频率高，传播线性强，在固体中传播容易，遇到两种不同介质形成的界面容易反射，可用于探伤。通常，超声波探头与待探测工件表面接触良好。该探头能有效地将超声波传输到工件上，并能接收来自（缺陷）界面的超声波反射。同时，它可以转换成电信号，然后传送给仪器进行超声波探伤仪的处理。缺陷的位置可以根据超声波在介质中传播的速度（通常称为声速）和时间来确定。

缺陷检测仪有许多显示缺陷的方法。是否可以用磁粉显示。磁粉探伤仪显示被称为磁粉检测。由于其直观的显示、简单的操作和人们使用它的意愿，它是最常用的方法之一。没有磁粉显示，通常称为漏磁检测。它通常使用感应线圈、磁控管、霍尔元件来反映缺陷。探伤机比磁粉探伤更卫生，但不如磁粉探伤机直观。